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TDS Sample Data

半导体材料(Wafer)

Foundry工艺中必要的Wafer污染分析


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显示材料

玻璃材质上的有机薄膜等的分析


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金属及钢铁材料

氢脆的定量、定性分析


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Standard Reference Material (NIST)

Hydrogen (Nominal Mass Fraction 125 mg/kg H)


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TDS 分析委托书

填写后发送至 master@ivt4u.com E-mail


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